技術(shù)文章
Technical articlesX射線吸收譜儀利用常規(guī)X光源實現(xiàn)X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（XAFS）光譜測量，對同步輻射等重大科技基礎(chǔ)設(shè)施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有良好的補充拓展作用，豐富科研檢測技術(shù)支撐。該儀器采用小型化桌面式設(shè)計，兼具易用性與高性能，核心優(yōu)勢特性如下：一、小型化桌面式系統(tǒng)：便捷易用核心優(yōu)勢系統(tǒng)采用小型化桌面式設(shè)計，降低使用門檻、適配多場景，具體優(yōu)勢：-支持近邊快掃功能，提升測量效率；-支持原位測試等擴展功能，拓寬應(yīng)用；-人體工學高度設(shè)計，操作便捷；-內(nèi)置實驗參數(shù)預(yù)置，快速啟動測量...
在材料科學、能源催化、環(huán)境科學等多個前沿領(lǐng)域，精準解析物質(zhì)的原子尺度局域結(jié)構(gòu)是揭示材料性能本質(zhì)、優(yōu)化反應(yīng)過程的關(guān)鍵。同步輻射XAFS（X射線吸收精細結(jié)構(gòu)）測試技術(shù)，憑借同步輻射光源的高強度、高準直性等優(yōu)勢，成為原子尺度結(jié)構(gòu)分析的“利器”。核心原理：要理解XAFS技術(shù)，首先要明確其核心基礎(chǔ)——X射線吸收現(xiàn)象。當單色X射線穿過樣品時，部分X射線光子會被樣品中的原子吸收，導致透射X射線強度衰減。隨著入射X射線能量的連續(xù)變化，吸收強度會呈現(xiàn)特定的變化規(guī)律，而XAFS正是對這一變化規(guī)律...
極紫外光譜儀作為一款具備高性能的科研檢測設(shè)備，憑借其先進的光學設(shè)計與全面的技術(shù)特性，在多個科研及工業(yè)領(lǐng)域中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。設(shè)備核心采用全息凹球面變線距光柵進行分光，自帶平場特性，可便捷搭配面陣CCD完成光譜記錄，操作便捷且數(shù)據(jù)采集高效。同時，光柵采用掠入射模式工作，大幅提升衍射效率，保障光譜檢測的精準度；通過選配不同型號的光柵，更能實現(xiàn)0.6~200nm波長范圍的全面覆蓋，適配多樣化的檢測需求。在應(yīng)用場景方面，該平場光譜儀的適配范圍廣泛，可深度服務(wù)于強場與高密度物理研究、半導...
X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（XAFS）譜儀（同步輻射X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)）憑借創(chuàng)新技術(shù)設(shè)計，突破了傳統(tǒng)測量限制，利用常規(guī)X光源即可實現(xiàn)XAFS光譜測量。這一特性使其對同步輻射等重大科技基礎(chǔ)設(shè)施，以及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器形成了較佳的補充與拓展，有效拓寬了X射線光譜測量的應(yīng)用場景與覆蓋范圍。作為一款小型化桌面式系統(tǒng)，該譜儀具備高的易用性，全面適配不同用戶的操作需求。設(shè)備支持近邊快掃功能，大幅提升測量效率；同時兼容原位測試等擴展功能，可滿足多樣化的實驗場景需求。在設(shè)計上，采用人...
在光譜探測領(lǐng)域，高分辨率、寬波長覆蓋與便捷操作的結(jié)合，是推動科研與產(chǎn)業(yè)突破的關(guān)鍵。高分辨平場光譜儀憑借創(chuàng)新的光學設(shè)計與朗好性能，成為強場物理、半導體制造等領(lǐng)域的核心探測設(shè)備，為精準光譜分析提供有力支撐。該光譜儀的核心優(yōu)勢源于其先進的分光技術(shù)——采用全息凹球面變線距光柵進行分光，獨特的平場特性讓光譜成像更規(guī)整，無需額外校正即可直接使用面陣CCD記錄光譜，大幅提升了檢測效率。光柵工作在掠入射模式下，有效強化了衍射效率，確保微弱光譜信號也能被清晰捕捉；同時通過選配不同型號的光柵，可...
在現(xiàn)代材料分析領(lǐng)域，精準捕捉物質(zhì)光譜特性是解鎖其屬性的關(guān)鍵。真空紫外分光光度計作為真空紫外波段檢測的核心設(shè)備，憑借獨特設(shè)計與性能，在生物醫(yī)藥、半導體等前沿領(lǐng)域作用突出，為科研提供可靠的物質(zhì)表征工具。精準檢測的核心：科學的工作原理該設(shè)備的精準檢測源于嚴謹?shù)墓ぷ髁鞒蹋阂噪疅魹楣庠窗l(fā)射真空紫外光，光線在高真空環(huán)境中傳輸（避免空氣干擾），經(jīng)收光系統(tǒng)聚焦至單色器，由單色器篩選出目標單色光后，精準聚焦于樣品區(qū)域。系統(tǒng)配備雙PMT探測器，分別采集樣品與參考光信號，信號經(jīng)專業(yè)軟件對比分析后生...
在材料科學、化學等眾多領(lǐng)域的前沿研究中，近邊X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀發(fā)揮著較為關(guān)鍵的作用。它能夠為科研人員提供關(guān)于物質(zhì)原子結(jié)構(gòu)和電子態(tài)的獨特信息，助力深入理解材料的物理和化學性質(zhì)。然而，在使用該儀器進行數(shù)據(jù)采集與處理的過程中，存在著諸多容易陷入的誤區(qū)，若不加以重視，可能導致實驗結(jié)果的偏差甚至錯誤結(jié)論。一、數(shù)據(jù)采集階段的誤區(qū)1、樣品制備不當許多研究者往往低估了樣品制備的重要性。如果樣品厚度不均勻，可能會導致X射線穿透程度不一致，從而影響吸收信號的準確性。此外，樣品表面的平整度也至...
在材料科學的微觀世界里，X射線吸收精細譜儀如同一臺超級顯微鏡，能夠穿透物質(zhì)表面揭示原子級別的結(jié)構(gòu)信息。這項基于同步輻射光源的技術(shù)，正成為解析復雜體系電子態(tài)和幾何構(gòu)型的設(shè)備，為新能源、催化劑研發(fā)等領(lǐng)域帶來革命性突破。一、原理探析：光子與電子的精妙對話當單色化的X射線照射樣品時，特定能量下的光子會被吸收并激發(fā)內(nèi)層電子躍遷至空軌道。這種吸收系數(shù)隨入射光子能量變化的曲線并非平滑連續(xù)，而是在吸收邊附近呈現(xiàn)振蕩特征——這便是著名的EXAFS(擴展X射線吸收精細結(jié)構(gòu))信號。通過傅里葉變換處...
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