在光譜探測領域,高分辨率、寬波長覆蓋與便捷操作的結合,是推動科研與產業突破的關鍵。高分辨平場光譜儀憑借創新的光學設計與朗好性能,成為強場物理、半導體制造等領域的核心探測設備,為精準光譜分析提供有力支撐。
該光譜儀的核心優勢源于其先進的分光技術——采用全息凹球面變線距光柵進行分光,獨特的平場特性讓光譜成像更規整,無需額外校正即可直接使用面陣CCD記錄光譜,大幅提升了檢測效率。光柵工作在掠入射模式下,有效強化了衍射效率,確保微弱光譜信號也能被清晰捕捉;同時通過選配不同型號的光柵,可實現1~30nm波長范圍的全覆蓋,滿足多場景測試需求。
一系列精心設計的產品特點,讓設備在實用性與適應性上表現突出。高光譜分辨能力是其核心競爭力,為精細光譜分析提供基礎;在線精密可調狹縫可在5μm~3000μm范圍內連續調節,能根據測試需求精準控制入射光量;遠程激光瞄準定位功能簡化了操作流程,提升了測試定位的準確性;結構緊湊、集成度高的設計,節省了安裝空間,便于融入各類實驗系統;高真空兼容性則使其能適應特殊實驗環境,拓展了應用邊界。
精準的參數配置進一步夯實了設備的可靠性。光源類型采用凹面變距光柵,與分光系統適配;探測器選用科研級相機,保障了光譜信號采集的精度;高真空兼容能力達5x105Pa,可穩定應用于真空實驗場景;光譜分辨率達2500 6nm/3000 30nm,且能根據實際需求進行優化,為不同精度要求的測試提供靈活選擇。
憑借全面的性能優勢,該高分辨平場光譜儀在多個領域發揮著重要作用。在強場與高能量密度物理研究中,它能精準捕捉極條件下的光譜信號,助力科研人員探索物質微觀特性;在半導體與集成電路制造領域,其高分辨率檢測能力可實現對芯片制造過程的精密監控,保障產品質量;在探測器、光源計量級標定工作中,設備的穩定性與精準度為計量結果的準確性提供了可靠保障。
從基礎科研到產業應用,高分辨平場光譜儀以其先進的技術、靈活的配置和穩定的性能,成為光譜探測領域的得力助手,為各行業的技術升級與科研突破提供堅實保障。