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Product CenterX射線吸收譜儀是一種利用同步輻射或?qū)嶒炇襒射線源,通過測量材料對X射線的吸收特性來探測其原子尺度局域結(jié)構(gòu)及電子態(tài)的分析儀器。其核心技術(shù)包括X射線近邊吸收譜和擴展邊精細結(jié)構(gòu),可精準解析目標元素的化學(xué)價態(tài)、配位環(huán)境、鍵長及配位數(shù)等信息。
更新時間:2025-11-21
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X射線吸收精細結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀X射線吸收光譜測試主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
更新時間:2025-11-21
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臺式X射線吸收譜儀 是一種采用常規(guī)實驗室X射線光源(而非同步輻射),可在普通實驗室內(nèi)完成X射線吸收精細結(jié)構(gòu)測量的桌面型分析儀器。它的目標是在非同步輻射光源的條件下,實現(xiàn)對材料局部原子結(jié)構(gòu)的快速、便捷表征。
更新時間:2025-11-21
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X射線吸收精細結(jié)構(gòu)(XAFS)譜儀同步輻射X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
更新時間:2025-11-21
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擴展x射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀主要測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化,廣泛應(yīng)用于診斷材料的局域特性,例如核心原子的價態(tài)、 配位數(shù)、位形與鍵長。
更新時間:2025-11-21
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